Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit sont plus particulièrement traitées. ©Electre 2025
Fiabilité des systèmes multiphysiques
Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l'intégration en synergie de la mécanique, de l'électronique, de l'automatique et de l'informatique dans la conception et la fabrication d'un produit en vue d'optimiser sa fonctionnalité.
Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.
Paru le : 27/07/2016
Thématique : Physique générale
Auteur(s) : Auteur : Pierre Richard Dahoo Auteur : Philippe Pougnet Auteur : Abdelkhalak El Hami
Éditeur(s) :
Iste éditions
Collection(s) : Génie mécanique et mécanique des solides
Série(s) : Non précisé.
ISBN : 978-1-78405-165-5
EAN13 : 9781784051655
Reliure : Broché
Pages : 289
Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm
Poids: 0 g
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