Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. ©Electre 2025
Caractérisation microstructurale des matériaux
Analyse par les rayonnements X et électronique
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique.
Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.
Paru le : 01/09/2011
Thématique : Physique générale
Auteur(s) : Auteur : Claude Esnouf
Éditeur(s) :
Presses polytechniques et universitaires romandes
Collection(s) : Metis LyonTech
Série(s) : Non précisé.
ISBN : 978-2-88074-884-5
EAN13 : 9782880748845
Reliure : Broché
Pages : XVI-579
Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm
Épaisseur: 3.0 cm
Poids: 1190 g
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