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Portraits de l'exil : Paris-New York : dans le sillage d'Hannah Arendt

Portraits de l'exil : Paris-New York : dans le sillage d'Hannah Arendt

Auteur (photographe) : Fred Stein
Éditeur(s) : Musée du Montparnasse
Arcadia
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A l'occasion d'une exposition au Musée du Montparnasse, cet ouvrage réunit des portraits provenant des archives de la famille Stein, réalisés à Paris ou à New York, où le photographe trouva refuge en 1941. Dédiée au thème de l'exil, cette sélection représente une cen...
25,00 €
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