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Auteur Dahoo, Pierre Richard
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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Auteur : Pierre Richard Dahoo
Éditeur(s) : Iste éditions
Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matéria...
43,26 €
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